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万深LA-S植物图像分析仪系统（全能型版）

该全能型的植物叶面积、病斑、虫损叶面积、叶色、根系、叶绿素含量估计、冠层分析、年轮、瓜果和木材剖切面分析仪系统是一种方便、可在野外或实验室使用的综合性分析仪器，精确度远高于传统的分析仪。采用全球统一标准，可精确、快速、无损伤地测定植物的多方面参数，功能强大、操作简单，内置支持网上在线升级的模块。该仪器综合了植物、农作物在上述9大方面的分析功能，广泛适用于农业、林业、气象等部门。该产品在中科院、中国农科院系统已有近200家高端用户，受到广泛好评。 

一、用途：用于植物年轮分析、根系分析、叶面积分析、病斑面积分析、虫损叶面积分析、叶片叶色分析、作物冠层分析、瓜果剖切面分析等。
二、主要性能指标：
1）配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪。扫描年轮、叶面积、根系的反射稿为A4加长幅面（35.6 cm×21.6 cm），正片透扫为30 cm×20 cm，最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。配Windows8平板电脑（≥7”平板、≥32GB固态硬盘、500万像素拍照、支持WIFI无线网络）。配10000mAH的12V移动电源的辅助背光源板，可野外辅助照明3小时。该野外成像背景板最大测量面积A4纸幅面，具有自动图像校正与自动测量标定特性。
2）植物年轮测量分析：可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成分析年表。可直接分析达2亿像素高精度扫描的超大幅面年轮图像。具有【精细】分析选项，可自动分析出≤0.2mm宽度的年轮，分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。可计算树盘总面积，分析木材的边材面积。
3）可全自动地大批量分析计算叶面积，并以叶片目标边缘标记来核对其正确性。可同时分析多张叶片面积，及分析小至1mm2的叶片。可分析多片叶叶面积、叶长宽、叶周长、叶长宽比、叶柄、病斑面积、虫损叶面积（含分析2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积）、测量植物的叶绿素相对含量或“绿色程度”，分析叶片叶色（具有按英国皇家园林协会RHS比色卡的比色特性）、可分析作物冠层。可交互进行植物相关的各种尺寸、角度测量。
4）植物根系测量分析：（1）根总长、根平均直径、根总面积、根总体积、根尖计数、分叉计数、交叠计数、根直径等级分布参数、根尖段长分布，（2）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数；能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。（3）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改，可不等间距地自定义），并能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。能用盒维数法自动测根系分形维数。大批量的全自动根系分析，对各分析结果图可编辑修正。可分析根瘤菌体积在根系中的占比，以客观确定根瘤菌体贡献量。
5）瓜果剖面各部位分析：可测西瓜的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、空心面积、瓤色分档分析、外周长；可测哈密瓜等甜瓜的：纵径、横径、果形指数、截面积、肉厚、外周长、瓤色分档分析、种腔（纵径、横径、面积）；可测苹果、梨等的：纵径、横径、果形指数、总面积、核心面积、肉色分档分析、外周长；可测柑橘类水果的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、肉色分档分析、外周长。
6）各分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图。

注：按选购模块而不同价。
选配：联想一体机电脑（双核CPU /4G内存/1G独立显卡/500G硬盘/ 20”彩显/DVD-RM /无线网卡）。

可选配600dpi扫描笔、1米长的白色便携背景板（最长可定制2米）成像附件，用以野外扫描成像水稻叶、玉米叶、大麦小麦叶等超长活体叶片，快速分析其叶面积、病斑面积等。LA-S软件能对此附件扫描的图像做大批量的自动分析。

典型使用单位：中科院成都山地所、华南农大林学院、北京林业大学林学院、中国农科院蔬菜所、中科院沈阳气象所、中科院南京湖泊所、中科院地理所、中山大学生命科学学院、山东大学生命科学院、山东农业大学农学院、苏州大学生命科学院、山西农科院园艺所、新疆农业大学园艺所、新疆农科院土肥所、福建农科院生物所、中国水稻所作物技术中心、东北师范大学城环学院等众多高端用户